microbrain非破壞檢測(cè)儀器的特點(diǎn)

發(fā)布時(shí)間：2022-11-28　點(diǎn)擊量：1341

microbrain非破壞檢測(cè)儀器的特點(diǎn)

ZEROS CUSTOM系列產(chǎn)品介紹

檢測(cè)透明薄膜中的透明缺陷
透明薄膜缺陷類(lèi)型與檢測(cè)難度的關(guān)系
數(shù)字圖像的高速計(jì)算
配備使用數(shù)字圖像的分析功能
配備基于數(shù)字化的測(cè)量功能

??ZEROS CUSTOM系列實(shí)現(xiàn)透明薄膜的全面檢測(cè)

ZEROS CUSTOM 系列旨在成為透明薄膜的綜合檢查機(jī)，并且在政府（*1）的支持下研發(fā)，除了已經(jīng)成為重要課題的感官檢查自動(dòng)化之外，現(xiàn)有檢查能力。本產(chǎn)品中使用的 ZEROS 濾光片和區(qū)域傳感器的高速圖像處理系統(tǒng)有助于提高透明薄膜制造的質(zhì)量、節(jié)省空間和降低成本。(*2)

ZEROS-CUSTOM影像檢測(cè)系統(tǒng)

透明薄膜缺陷類(lèi)型與檢測(cè)難度的關(guān)系

*1 戰(zhàn)略性基礎(chǔ)技術(shù)推進(jìn)支持項(xiàng)目（經(jīng)濟(jì)產(chǎn)業(yè)省）
*2 根據(jù)薄膜材料和缺陷形狀，可能需要調(diào)查和考慮。

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可判定無(wú)色透明缺陷的檢測(cè)方法“ZEROS Technology"

“ZEROS技術(shù)"是我公司發(fā)明的一種透明缺陷檢測(cè)方法。可以瞬間檢測(cè)出只有專(zhuān)家用肉眼或用顯微鏡才能看到的無(wú)色透明缺陷，并確定缺陷的形狀和面積。

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不依賴(lài)作業(yè)速度檢測(cè)缺陷的“區(qū)域傳感器方式"

與傳統(tǒng)線傳感器使用的信號(hào)振幅轉(zhuǎn)換方法不同，面?zhèn)鞲衅魍ㄟ^(guò)圖像數(shù)據(jù)的運(yùn)算處理來(lái)檢測(cè)缺陷，具有多種優(yōu)勢(shì)。

檢測(cè)原理對(duì)比（打開(kāi)圖）

	常規(guī)缺陷檢測(cè)原理		ZEROS缺陷檢測(cè)原理
	用定向光照射透明缺陷并通過(guò)改變折射率將其可視化		使用 ZEROS 過(guò)濾器可視化透明薄膜中的透明缺陷
	將光強(qiáng)度（亮度）的變化轉(zhuǎn)化為電信號(hào)		將可視化圖像轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像
	缺陷檢測(cè)具有閾值的電量變化		處理數(shù)字圖像以檢測(cè)透明缺陷
	* 還可以對(duì)缺陷進(jìn)行量化和量化，識(shí)別缺陷（感官檢驗(yàn)）。